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產(chǎn)品分類

品牌標(biāo)簽

HP Spectroscopy光譜儀maxLIGHT-SXR

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產(chǎn)品介紹

maxLIGHT 采用無縫設(shè)計，可提供光收集量和業(yè)內(nèi)高效率。經(jīng)像差校正的平場波長覆蓋范圍從 1nm 到 200nm，光譜帶寬寬廣，例如每個光柵可覆蓋 5-80nm 的波長。maxLIGHT 具有集成的狹縫支架和濾光片插入裝置，以及電動光柵定位裝置。檢測器選項包括用于高分辨率和動態(tài)范圍的 XUV CCD，以及用于寬波長覆蓋范圍和門控/增強(qiáng)檢測的 MCP/CMOS 檢測器。采用直接光源成像。因此，無需狹窄的入口狹縫，可大限度地收集光線。與傳統(tǒng)的光譜儀結(jié)構(gòu)相比，到達(dá)光譜儀探測器的光量增加了 20 倍。這種結(jié)構(gòu)還大大提高了日常運行的穩(wěn)定性。

性能特點

平場掠入射光譜儀

采用專有的無狹縫設(shè)計，效率高

波長范圍從 1 nm到 200 nm

集成示波器

模塊化交鑰匙設(shè)計

選型指南

可選功能與配件

無磁、旋轉(zhuǎn)幾何、偏振等

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)地：德國

拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)：像差校正平場光譜儀和光束輪廓儀

光源距離：靈活

探測器：CCD 或 MCP/CMOS

工作壓力：<10-6 mbar（提供 UHV 版本）

無縫技術(shù)：是

入口狹縫：可選

光柵定位：電動閉環(huán)

光譜濾波器插入單元：是

控制接口：USB 或以太網(wǎng)

軟件：Windows UI 和 Labview/VB/C/C++ SDK

可定制：完全可定制

波長范圍：1-20 nm

色散：0.2-0.4 nm/mm

分辨率：在 10 nm處 <0.015 nm

產(chǎn)品應(yīng)用

高次諧波發(fā)生源、阿秒科學(xué)、強(qiáng)激光物質(zhì)相互作用、自由電子激光器、激光和放電產(chǎn)生的等離子體源、X 射線激光器、激光驅(qū)動的二次光源

產(chǎn)品參數(shù)

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